ECTS
3 crédits
Composante
UFR PhITEM (physique, ingénierie, terre, environnement, mécanique)
Période de l'année
Automne (sept. à dec./janv.)
Description
Ce cours se concentrera sur les différentes méthodes de microscopie permettant la caractérisation des nano- ou micro-structures : microscopie électronique à Balayage (MEB), microscopie électronique en transmission (MET), microscopie à force atomique (AFM), microscopie à effet tunnel (STM), ou la spectroscopie/microscopie neutronique.
Chaque méthode de microscopie est développée de manière théorique durant quelques heures de CM avant que chaque utilisation concrète des techniques soit illustrée via des travaux pratiques effectués au sein des instituts de recherche des sites Grenoblois (CEA, Institut Néel) ou les plateformes technologiques (nanomonde…) permettant aux étudiants de comprendre l’utilité de chaque technique pour la caractérisation d’échantillons réels issue de la recherche.
Heures d'enseignement
- UE Nano-charactérization 2 - TPTP4h
- UE Nano-charactérization 2 - CMTDCours magistral - Travaux dirigés20h
Pré-requis recommandés
Physique fondamentale (niveau d’énergie, propriétés des électrons), structure de la matière
Période
Semestre 9