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Description
Ce cours se concentrera sur les méthodes spectroscopiques de caractérisations des nanomatériaux : Diffraction des rayons X, spectroscopie IR ET Raman, spectrométrie SIMS, méthode XPS.
Chaque méthode de caractérisation est développée de manière théorique durant quelques heures de CM avant que chaque utilisation concrète des techniques soit illustrée via des travaux pratiques effectués au sein des instituts de recherche des sites Grenoblois (CEA, Institut Néel) permettant aux étudiants de comprendre l’utilité de chaque technique pour la caractérisation d’échantillons réels issue de la recherche.
Recommended prerequisite
Notions de spectroscopie électronique et vibrationnelle. Notions de cristallographie