Diplômes intégrant cet élément pédagogique :
Descriptif
Étude détaillée de quelques techniques de caractérisation (MEIS, XPS et microscopies à sonde locale) utilisées comme outils de contrôle des surfaces et des couches minces. Cet enseignement est illustré par de nombreux exemples d'application.
1 Ordres de grandeur en Physique des surfaces et en Physique du vide. Instrumentations : sources, analyseurs et détecteurs
2 Physique de la MEIS. Applications à l'étude des matériaux et structures.
3 XPS, physique et applications.
4 Microscopies à sonde locale, physique et applications.
Detailed study of some characterization techniques (MEIS, XPS and local probe microscopy) used as tools for surface and thin film control. This teaching is illustrated by numerous application examples.
1 Orders of magnitude in Surface Physics and Vacuum Physics. Instrumentations: sources, analysers and detectors
2 Physics of MEIS. Applications to the study of materials and structures.
3 XPS, physics and applications.
4 Local probe microscopies, physics and applications.
Pré-requis recommandés
Notions de physique du solide et de mécanique quantique. Outils mathématiques usuels.
Notions of solid-state physics and quantum mechanics. Common mathematical tools.
Bibliographie
L.C. Feldman et J.W. Mayer, Fundamentals of surface and thin film analysis (North-Holland, New-York, 1984).
Informations complémentaires
Lieu(x) : GrenobleLangue(s) : Français
Enseignement proposé par :
En bref
Période : Semestre 8Volume horaire
- CM : 10h
