Analyse des surfaces - applications / Surface analysis - application

Mise en pratique des méthodes d'analyse des surfaces traitées dans le cours "Méthodes d'analyse des surfaces" du semestre 7 (AFM, STM, XPS, MEIS)

- AFM: différents modes d'utilisation (contact, contact intermittent..), courbe approche-retrait, impact des paramètres d'asservissement
- STM: étude d'un échantillon HOPG, étude de la structure atomique, courbes I(V) et I(z)
- XPS: étude de la composition chimique à la surface d'un échantillon
- MEIS: étude de la structure à la surface d'un échantillon par faisceau d'ions

Practical application of the theorie treated in the "Surface Analysis Methods" lecture of semester 7 (AFM, STM, XPS, MEIS)

- AFM: different operating modes (contact, intermittent contact...), approach-retract curve, impact of feedback parameters
- STM: study of a HOPG sample (atomic structure), I(V) and I(z) characteristics
- XPS: study of the chemical surface composition of a sample
- MEIS: study of the surface sample structure by ion beam analysis

Cours MÉTHODES D'ANALYSE DES SURFACES du semestre 7

Lecture "SURFACE ANALYSIS METHODS" of semester 7