RX et TEM / X-rays and TEM

Diplômes intégrant cet élément pédagogique :

Descriptif

- Comprendre comment la matière condensée cristallisée est décrite avec le réseau direct et ses symétries
- Comprendre le processus de diffraction et le réseau réciproque
- Étude des techniques expérimentales utilisées dans l'industrie
- Connaissances des exponentielles complexes et des transformées de Fourier

 1 Bases fondamentales
    1.1 Production des rayons X et des neutrons
       1.1.1 Spectre de rayonnement synchrotron
    1.2 Interaction rayonnement - matière
       1.2.2 Construction d'Ewald et loi de Bragg
       1.2.3 Intensités diffractés et facteur de structure
2 Caractérisation par rayons X
    2.1 Méthode de Debye-Sherrer
    2.2 Méthode de fluorescence
    2.3 Méthode du cristal tournant

 

- Understanding how crystallized condensed matter is described with the direct lattice and its symmetries.
- Understanding diffraction processes and the reciprocal lattice.
- Study of experimental techniques used in industry
- Knowledge of complex exponentials and Fourier transforms

1 Fundamentals
 1.1 Production of X-rays and neutrons
    1.1.1 Synchrotron radiation spectrum
 1.2 Radiation-matter interaction
    1.2.2 Ewald Construction and Bragg's Law
    1.2.3 Diffracted intensities and structure factor
2 X-ray characterization methods
 2.1 Debye-Sherrer Method
 2.2 Fluorescence
 2.3 Rotating crystal method

Bibliographie

- P. Ducros, Radiocristallographie
- J.P. Eberhart, Méthodes physiques d'étude de minéraux et matériaux solides
- M. Van Meerssche, J. Feneau, Introduction à la Cristallographie 1

Informations complémentaires

Lieu(x) : Grenoble - Saint-Martin d'Hères
Langue(s) : Francais