RX et TEM

Diplômes intégrant cet élément pédagogique :

Descriptif

Comprendre comment la matière condensée cristallisée est décrite avec le réseau direct et ses symétries .Comprendre le processus de diffraction et le réseau réciproque.Etude des techniques expérimentales utilisées dans l’industrie

Connaissances des exponentielles complexes et des transformées de Fourier

1 Bases fondamentales• 1.1 Production des rayons X et des neutrons• 1.1.2 Spectre de rayonnement synchrotron• 1.2 Interaction rayonnement - matière• 1.2.2 Construction d’Ewald et loi de Bragg• 1.2.3 Intensités diffractés et facteur de structure2 Caractérisation par diffraction• 2.1 Méthode de Debye-Sherrer• 2.2 Méthode de goniométrie• 2.3 Méthode du cristal tournant et technique de L

Bibliographie

• P. Ducros, Radiocristallographie .• J.P. Eberhart, Méthodes physiques d’étude de minéraux et matériaux solides.

• M. Van Meerssche, J. Feneau, Introduction à la Cristallographie

Informations complémentaires

Langue(s) : Français