Méthode d'analyse des surfaces

Diplômes intégrant cet élément pédagogique :

Descriptif

Etude détaillée de quelques techniques de caractérisation (RBS et canalisation, SIMS, XPS-AES, MEB et TEM) utilisées comme outils de contrôle des surfaces et des couches minces. Cet enseignement est illustré par de nombreux exemples d’applicationOrdres de grandeur en Physique des surfaces et en Physique du vide. Instrumentations : sources, analyseurs et détecteurs 2 Physique de la RBS et de la canalisation. Applications à l’étude des matériaux et structures. 3 SIMS : Physique et applications, profils en profondeur 4 XPS et AES Physique et application

Pré-requis

Techniques spectroscopiques de 1ère année Notions de base de cristallographie, de diffraction, de Physique du solide et de Mécanique quantique. Outils mathématiques usuels

Informations complémentaires

Langue(s) : Français